Photonisch integrierte Schaltkreise werden zunehmend in Volumenfertigung hergestellt. Vor diesem Hintergrund werden Prüfungen für eine skalierbare und kosteneffiziente Produktion immer wichtiger. In diesem Podcast erläutert Nikta Jalayer, Global Portfolio Director Photonics bei PI, warum optische Tests im Vergleich zum konventionellen elektrischen Probing mit grundlegend anderen Herausforderungen verbunden sind und warum Wafer-Level-Tests zu einem Schlüsselfaktor für den Einsatz photonischer Technologien in KI- und Rechenzentrumsanwendungen werden. In diesem Kontext kann das Ausführen dieser Tests auf Wafer-Ebene dazu beitragen, Ausbeute, Durchsatz und Fertigungseffizienz zu verbessern.
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- Warum optische Wafer-Level-Tests entscheidend für die Skalierung der Fertigung photonisch integrierter Schaltkreise sind
- Wie sich optische Prüfungen vom konventionellen elektrischen Probing unterscheiden und warum sie eine sehr präzise Ausrichtung und stabile Prüfumgebungen erfordern
- Wie Wafer-Level-Tests dazu beitragen, die Ausbeute zu verbessern, Fertigungskosten zu senken und den Durchsatz in der Photonik-Volumenproduktion zu erhöhen
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